技术编号:33752671
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及闪烁体探测器技术领域,尤其涉及一种闪烁体探测阵列的信号处理方法及成像设备。背景技术.闪烁体探测器在辐射射线照射停止后一段时间内仍有残余发光,被之称为闪烁体的余辉。闪烁体的余辉产生机理十分复杂,一般认为余辉和闪烁体内部的结构、杂质和缺陷以及闪烁体的制造过程相关,同时还和闪烁体的使用温度、被电离辐射照射的剂量以及照射的时间长短有关。闪烁体余辉的衰减时间常数从ms到几百ms甚至几个小时,往往同一个闪烁体具有从短余辉到长余辉的多种衰减成分。随着闪烁体被照射时间的增加,长余辉的成分会逐渐...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。