技术编号：33807655
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本申请涉及芯片验证技术领域，具体而言，涉及一种芯片仿真功能覆盖率检测方法、装置及检测系统。背景技术.功能覆盖率作为衡量芯片设计功能得到充分验证的核心指标，对于大多数公司，％功能覆盖率是芯片达到流片标准的必要条件之一。在对芯片仿真功能覆盖率进行检测时，除功能覆盖点外，还需要设置交叉仓以满足对芯片功能点的全方位覆盖。.目前，现有获取交叉仓的方法大都为采取“排除仓”的方式，排除仓是一种逆向做减法的方式，即先对设定好的多个功能覆盖点做完全交叉，得到全部可得的交叉点，再利用排除规则从全部交叉...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。