一种芯片仿真功能覆盖率检测方法、装置及检测系统与流程技术资料下载

技术编号:33807655

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.本申请涉及芯片验证技术领域,具体而言,涉及一种芯片仿真功能覆盖率检测方法、装置及检测系统。背景技术.功能覆盖率作为衡量芯片设计功能得到充分验证的核心指标,对于大多数公司,%功能覆盖率是芯片达到流片标准的必要条件之一。在对芯片仿真功能覆盖率进行检测时,除功能覆盖点外,还需要设置交叉仓以满足对芯片功能点的全方位覆盖。.目前,现有获取交叉仓的方法大都为采取“排除仓”的方式,排除仓是一种逆向做减法的方式,即先对设定好的多个功能覆盖点做完全交叉,得到全部可得的交叉点,再利用排除规则从全部交叉...
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