技术编号:34036808
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。一种x荧光光谱法测定二氧化铀中铀含量快速检测方法技术领域.本发明属于化学检测技术领域,具体涉及一种x荧光光谱法测定二氧化铀中铀含量快速检测方法。背景技术.铀总量检测常用的有同位素稀释质谱法、氧化还原滴定法、电位滴定法、恒电流库伦滴定等几种。同位素稀释质谱法灵敏度高、准确性好,但测量过程复杂、成本较高、测量时间较长,涉及多次称量、多次质谱分析以及样品处理,数据处理复杂,还需适宜的同位素稀释剂。氧化还原滴定法采用多酸溶解(硝酸、硫酸、高氯酸、氢氟酸),最终还需转换成磷酸体系,测量时间一般大于小...
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