技术编号:34267227
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及低频连接器测试技术领域,特别涉及一种连接器通断检测方法、系统及装置。背景技术.在航天航空系统中,低频连接器有着广泛的用途,小型的低频连接器,例如ch-tkb-.等产品在电性能出厂检测时,导通测试都是采用单一导通手动测试,但是连接器的外形尺寸小,线芯间隙小,手工测量可靠性差、操作困难,工作效率低,不利于大规模检测。因此,一种自动高效的检测方法有十分重要的意义。发明内容.本发明实施例提供了一种连接器通断检测方法、系统及装置,用以解决现有技术中线芯较多的连接器测试效率低下...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。