技术编号：34306595
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及半导体测试技术领域，尤其是涉及一种芯片测试工具。背景技术.电子产品一般由芯片形成，芯片的制作一般在晶圆上形成，形成之后需要经过一定的功能测试才能完成芯片的整体生产，然后出厂。如果功能测试中，发现某一项功能数据有问题，则可以停止该芯片的出厂，以提高生产良率和客户满意度。并且通过功能测试还可以发现芯片出现的具体问题，例如如果是制程问题，可以通过功能测试及时发现，及时对制程进行修正。所以功能测试在半导体行业中是非常重要的一个环节。.现有技术中，使用测试机台对芯片进行功能测试，测试机台...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。