技术编号:34350073
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本申请实施例涉及测试技术领域,尤其涉及一种电子器件的辅助测试工具及服务器测试系统。背景技术.在现行的服务器测试体系之中,需要对内存条等形式的电子器件进行温度测试,以用于检测内存条在不同温度条件下的性能。在相关技术中,对于电子器件的温度测试主要是依靠电子器件的自发热,但电子器件的自发热量是非常有限的,往往很难达到所需要的测试条件。.因此,如何提供一种方案,以克服或者缓解上述缺陷,仍是本领域技术人员亟待解决的技术问题。实用新型内容.本申请实施例提供了一种电子器件的辅助测试工具及服务器测试系...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。