技术编号:34375317
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及芯片测试技术领域,具体涉及一种安全芯片嵌入式非易失性存储器擦写寿命测试方法、存储介质以及计算机。背景技术.非易失性存储器根据存储单元浮栅上是否具有电荷来存储逻辑、数据,具有掉电不丢失数据的特性。非易失性存储器的存储单元根据存储介质的不同分为浮栅型和电荷阱型两种器件。根据不同的擦写物理机制和电路结构以及工艺的配合,形成不同结构的非易失性存储器技术路线,目前主流的有split-gate、sonos、pflash、floto等。根据每个存储单元所需的晶体管数量,又可分为t、....
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