技术编号:34617332
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本发明属于半导体测试技术领域,具体涉及一种可防止瞬断的双头单动半导体测试探针。背景技术.半导体测试探针广泛应用于手机、汽车、医疗以及航天航空等技术领域,是一种高端的电子元件。.半导体测试探针的结构通常是由针头、针管、弹簧三部分组成,针头和弹簧装在针管内部,在针管管口运用压铆缩口方式,使得针头、弹簧保持在针管内部,成为一个整体的结构。使用时,针头受力向针管内压缩弹簧,此时弹簧产生的弹力顶住针头,针头与被测件良好接触,进行测试。.但是现有半导体测试探针使用时,针头与弹簧之间产生的瞬时断开会...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。