技术编号：34719942
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及电子器件测试技术的领域，尤其是涉及一种用于电子器件高低温全自动测试的系统及方法。背景技术.对于电子器件的生产过程中，需要对器件进行高低温环境下的性能参数测试，以保证器件在最终使用的环境下仍能保证相应的技术参数，不会发生性能漂移或失效。.在目前生产过程中，电子器件的高低温性能参数主要采用抽测、产品焊接式测试、箱体式静态夹具测试这几种方法，这几种方法均无法满足大批量产品的生产要求，同时在部分厂家做该项测试时还采用人工手动测量，对于测试数据准确性也会产生一定的误差。.并且过程中有高...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。