技术编号：34736056
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及芯片检测技术领域，具体涉及一种列阵式apd、pd芯片的检测设备及其检测方法。背景技术.在对芯片进行性能检测时，在更换需要被检测的芯片之后，需要分别对每个芯片分别进行定位调整。上述定位调整过程需要操作人员检测芯片位置并重新调整检测平台的相机、探针以及芯片的倾斜角度。上述过程就会消耗大量的时间，从而降低芯片的检测效率。为此，本领域技术人员需要设计出一种列阵式芯片的检测设备，以解决现有的检测设备对更换芯片之后还需要重新对芯片进行定位，以及还需要重新调整检测设备的问题。发明内容.本发明...
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