技术编号:34794729
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本实用新型涉及测厚技术领域,具体涉及一种自校正测厚装置。背景技术.薄膜测厚仪,又称为测厚仪、薄膜厚度检测仪、薄膜厚度仪等,薄膜测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量;如图所示,现有的测厚装置通常为固定,无法实时调整装置的位置,再加上测厚过程中有干扰杂波的存在,在连续工作时会产生误差无法进行校准,因此,提供一种能够对测厚仪进行实时的厚度校正的自校正测厚装置是很有必要的。实用新型内容.本实用新型要解决的技术问题是:提供一种能够在测量薄膜厚...
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