技术编号:34811968
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。通过图像处理软件计算金属材料ebsd晶粒尺寸方法及装置技术领域.本发明涉及物理的测量技术领域,尤其涉及一种通过图像处理软件计算金属材料ebsd晶粒尺寸方法及装置。背景技术.相邻晶粒之间的晶界,如果取向差大于°或°,通常被认为是大角度晶界。大量研究发现,大角度边界可以抑制裂纹扩展,有利于增强强度和韧性。ebsd(electron backscattered diffraction,电子背散射衍射)是一种用于检测大角度晶界的强大技术。被大角度晶界包围的晶粒称为有效晶粒。平均有效晶粒尺寸是...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。