技术编号：34889068
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本实用新型涉及测试分选机技术领域，尤其是涉及一种防霜可视装置及测试分选机。背景技术.随着现代工艺技术的进步，半导体芯片的使用环境越来越苛刻，已不仅仅局限于常温、高温环境，开始逐渐向低温环境进军，所以测试分选机也具有被设计为使得半导体芯片可在低温(℃以下)环境下被测试的趋势。.测试分选机在极低的温度环境下长时间进行测试时，观察窗组件的温度会随之降低至露点温度以下，为防止观察窗组件发生结霜结露现象，不仅会在测试区内通入干燥气，还会向观察窗组件内部所营造的密闭环境中通干燥气体。然而存在的问题...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
该类技术注重原理思路，无完整电路图，适合研究学习。