技术编号:34997985
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。一种温控测试系统.本申请是针对申请号为,申请日为的中国发明专利申请进行的分案申请。技术领域.本发明涉及电子产品测试领域,特别是涉及一种温控测试系统。背景技术.随着电子产品技术飞速发展,及其制程效率、良率的要求日益提高,电子产业在提高电子产品制程效率的同时,也逐步开始加强对于产品功能测试设备的研制和优化;其中对于高功率芯片的散热系统的设计一直是行业内的技术难点;在芯片测试过程当中,为了使得芯片在额定工作温度下较好的保持工作温度,在测试过程当中需要动态...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。