技术编号：35177588
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本实用新型涉及深空探测采样装置，特别涉及一种地外天体非结构化表面附着钻取采样装置。背景技术.地外天体(包括月球、火星、小行星、彗星等)表面样本具有反应其物化特征的重要信息，附着在天体不同表面并对不同位置样本开展采样活动对科学探索与分析地外天体具有重要意义。地外天体一般具备典型的非结构化表面环境，而非结构化表面一般材质性能不均，结构及尺寸变化不规律，探测信息不可描述，这对空间附着机构的设计提出巨大挑战。除此之外，地外天体极端的工作环境，包括低微重力、昼夜温差、真空条件等使得开展采样活动极为困...
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