技术编号:35272992
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。一种基于ate测试机的芯片全温度自动测试系统及方法技术领域.本发明涉及芯片测试领域,具体说是基于ate测试机的芯片全温度自动测试系统及方法。背景技术.每个芯片的规格书中,都会有芯片的某些参数高低温性能介绍,且必须还有具体的数据曲线体现。因此在芯片的测试领域里,芯片的高低温测试是一项必要的测试项目,对芯片的性能验证起到至关重要的作用。.目前,芯片的高低温测试过程均是手动操作的,即工作人员选取一个参数进行高低温测试,在测试过程中将每个温度区间对应的参数值均手动记录下来,如此往复,直至芯片的所有...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
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