一种数字IC芯片的功能测试的方法和系统与流程技术资料下载

技术编号:35283496

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一种数字ic芯片的功能测试的方法和系统技术领域.本发明涉及数字ic芯片测试技术,尤其涉及了一种数字ic芯片的功能测试的方法和系统。背景技术.在老炼行业对数字ic芯片进行可靠性测试时,一般是给待测器件加载数字信号,检测输出频率,以此来达到功能测试的目的。.现有技术对数字ic芯片,只通过频率标准来判断器件功能,很多情况下并不能真实准确地反映出待测器件的功能特性,这使得试验降低了测试的准确率。.很多对数字ic芯片测试的回检频率的检测并不是实时的,这也在很大情况下减低了待测器件的测试错误覆盖率。...
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