技术编号:35283496
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。一种数字ic芯片的功能测试的方法和系统技术领域.本发明涉及数字ic芯片测试技术,尤其涉及了一种数字ic芯片的功能测试的方法和系统。背景技术.在老炼行业对数字ic芯片进行可靠性测试时,一般是给待测器件加载数字信号,检测输出频率,以此来达到功能测试的目的。.现有技术对数字ic芯片,只通过频率标准来判断器件功能,很多情况下并不能真实准确地反映出待测器件的功能特性,这使得试验降低了测试的准确率。.很多对数字ic芯片测试的回检频率的检测并不是实时的,这也在很大情况下减低了待测器件的测试错误覆盖率。...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。