技术编号：35371262
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明属于辐射探测器技术领域，具体涉及一种用于辐照效应实验研究的束流均匀性测量装置及方法。背景技术.在电子学元器件和材料的辐射效应研究、以及辐照可靠性评估过程中，探测器是必不可少的设备，用于记录加速器引出的粒子信息。根据辐照实验需求，每次变更束流后都需要测量束流的能量、注量/注量率等参数。随着电子系统集成度的增加，对单个器件辐射效应的研究及抗辐照性能的评估已经不能满足实际需求，逐渐转变为对整个系统抗辐照性能的研究及评估，因此需要较大的面积的均匀束流进行辐照。.同时，为节省束流时间，保证束...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。