技术编号：35419130
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本申请涉及控制技术领域，特别是涉及一种高通量测序系统工作台的轨迹控制方法及装置。背景技术.高通量测序系统是基于荧光反应和光学系统成像对待测样品进行测定，在基于步进凝视成像的高通量测序系统中，其工件台的在收敛整定过程所需的时间快慢决定测序通量的高低。具体而言，工作台携带有待测样品从初始位置以设定的运动轨迹运动至目标位置，在运动至目标位置后进入收敛整定过程，收敛整定后经由光学系统成像对待测样品进行序列分析。.相关技术中，高通量测序系统工作台以设定的运动轨迹运动至目标位置后，由于工作台运动至目...
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