技术编号：35478643
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本申请涉及检测领域，具体涉及一种检查设备。背景技术.现有芯片的缺陷检查依靠人眼在显微镜下检查，由于缺陷的种类较多，例如碰撞损伤、侧崩、缺损等，人眼经常出现误判漏判的情况，增加了产品的报废。.其次，在人员检查的过程中，很容易由于操作不当引起的芯片损伤，不能发现就会造成产品报废。实用新型内容.鉴于上述问题，本申请提供一种检查设备，可以降低产品的报废，提升产品良率。.为了解决上述问题，本申请提供一种检查设备包括：上料机构，用于接收并运输目标器件；表面检测机构，用于对所述上料机构运输的所述目...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。