技术编号：35562799
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本实用新型涉及半导体测试领域，尤其涉及检流电路保护及负载检测技术。背景技术.当前，通信行业及消费电子行业发展迅速，市场对产品相关性能提出了更高的要求，极大推动了半导体器件小型化，集成化的发展进程，相应的，半导体器件的测试技术也需要更进一步的发展，整体趋势上，负载的功能越来越多，电流越来越大，功能越来越复杂，现有的检测负载和负载保护电路应对极端情况的能力有限，当外接电源发生短路、过载时，电压浪涌和电流浪涌就会对负载电路造成损坏，测试效率将会因此收到影响。实用新型内容.基于此，本实用新型设计...
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