技术编号：36213091
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本实用新型涉及半导体芯片测试技术领域，特别涉及一种半导体芯片用测试装置。背景技术.半导体测试是在有缺陷的电子元件进入市场或组装成电子产品之前进行识别和丢弃的预测方法。随着半导体电子技术的进步，半导体测试已成为保证质量的关键工业过程。除半导体元件外，pcb，ic半导体试验通常是在老化条件下进行的。半导体试验是对半导体器件施加电应力和热应力，尽快突出固有故障。.经检索公开号为cna的中国专利，公开了一种半导体芯片的自动化测试设备，包括：机箱，机箱的上部设置有操作台且两侧设置...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。