技术编号：36245708
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及一种半导体辐射检测器组件。背景技术.半导体辐射检测器可以例如在分析仪设备、光谱仪或电子显微镜中用作检测辐射(电离辐射或非电离辐射)的组件，诸如伽马射线、x射线、紫外线(uv)辐射、可见辐射或带电粒子辐射。半导体辐射检测器通常操作以输出描述检测到的入射辐射水平的电测量信号。.半导体辐射检测器的非限制性示例包括半导体漂移检测器(sdd)和pin二极管，其各自包括布置在半导体块的一个表面上的集电极和布置在半导体块的至少相对表面上的场电极布置，以产生电场以驱动由于到集电极的入射辐射而在...
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