技术编号：36246902
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本申请涉及电子设备技术领域，特别是涉及一种具有老化检测功能的芯片。背景技术.随着集成电路制造工艺的不断发展，尤其是在电路规格进入深亚微米阶段后，电路的老化效应对集成电路的性能、功耗、可靠性等指标的影响也越来越突出。其中，集成电路的老化效应包括：电迁移(electromigration，em)、负偏压温度不稳定性(negative bias temperature instability，nbti)、热载流子注入(hot carrier injection，hci)等。随着集成电路的使用时间...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。