技术编号:36325555
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。性能分析方法、装置、电子设备及存储介质技术领域.本公开涉及集成电路技术领域,尤其涉及一种性能分析方法、装置、电子设备及存储介质。背景技术.在大规模芯片的设计过程中,芯片的性能分析是必不可少的环节之一。传统的分析方法有两种:一是在软件的验证环境启动与芯片的真实工作场景相关的验证ip的重验证(co-simulation),确认启动的验证ip能否正常工作,同时插入一些采样器,采样芯片工作过程产生的数据,分析得到芯片的性能数据。二是在硬件的验证平台启动与芯片的真实工作场景相关的验证ip的重验证(co...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。