技术编号：36401982
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明关于一种瑕疵检测装置及方法。具体而言，本发明关于一种基于多个阶段的调整机制提升瑕疵检测准确率的瑕疵检测装置及方法。背景技术.近年来，由于智能制造的快速发展，导入深度学习技术到自动光学检测(automated optical inspection；aoi)领域中成为发展的目标之一。其中，由于在某些工业制造领域中，需要面对瑕疵种类的未知性且缺乏用于训练的瑕疵样本等等的问题，使得半监督式的瑕疵检测手段被广泛的应用。.具体而言，半监督式的瑕疵检测在训练时，可通过生成对抗式网络架构进行训练，...
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