技术编号:36444976
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及中子环境样品拉伸技术领域,具体为大深径比中子环境中的样品原位拉伸方法及机构。背景技术.中子散射技术是目前人类观察微观世界的最强有力手段之一,作为新一代微观结构表征技术,中子散射正广泛应用于诸多学科领域,借助人工设计制造的样品环境装备,可以更进一步实现多种应用场景的材料微观结构探测。.然而目前并没有在中子环境中,对样品原位进行针对拉伸力、试样断裂等方面进行试验测试的手段与装置,故亟需发展一种大深径比中子环境中的样品原位拉伸方法及机构。发明内容.针对现有技术存在的上述缺点,本发明...
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