技术编号：36714673
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于光学测量，具体为一种基于几何约束半全局匹配的立体数字图像相关方法。背景技术、立体数字图像相关(stereo-dic)已成为一种用于定量分析材料和结构全场三维形状、位移或变形的主流光学计量技术。无论是测量三维轮廓还是变形，stereo-dic中的立体匹配方法是从立体图像中重建三维点云的核心技术。基于特征的传统方法(如sift)通过从立体图像中提取大量特征，为立体匹配提供了初始二维位移参数，但代价是昂贵的计算开销。此外，由于透视差异导致复杂区域的特征匹配精度较低，这些方法无法精确测量具有...
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