技术编号：36842549
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本技术涉及调平控制装置，具体而言，涉及一种微波测试探针高精度调平平台。背景技术、目前，对无源器件的测试在微波射频行业很常见，测试方法多种多样，其中探针测试是最常用的一种。微波测试探针是一种高精度的接触针，其直径仅仅只有.mm左右，非常脆弱。如果测试时探针不能调平很容易损坏探针，但是目前测试探针的调平难度很大、无法通用和生产效率低下。技术实现思路、本实用新型旨在提供一种微波测试探针高精度调平平台，以解决现有技术中测试探针的调平难度很大、无法通用和生产效率低下的问题。、本实用新型的实施例是...
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