技术编号:36924095
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本技术涉及膜厚测试仪器,具体为一种手动对焦的反射膜厚测试仪器。背景技术、反射膜厚测试仪,它利用光学的特点,能够直接检测出物体透明或者半透明涂层的厚度。光学膜厚测量仪所利用的工作原理,便是光的折射与反射。测量时,摆放在被测件的上方,从仪器的测头部分发射出垂直向下的可视光线。其中一部分光会在膜的表面形成反射,另一部分则会透过被测试的薄膜,在薄膜与衬底之间的界面形成反射,薄膜表面以及薄膜的底部同时反射的光会造成干涉的现象。仪器便是利用了这一现象,从而测量出薄膜的厚度。、现有的反射膜厚测试仪一般采用...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。