技术编号：36935073
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种荧光x射线分析装置，该荧光x射线分析装置对试样照射一次x射线，根据所产生的荧光x射线的测定强度，通过采用基本参数法或校准曲线法(検量線法)的定量机构，求出试样中的成分的含有率。背景技术、在过去，进行定量分析的荧光x射线分析装置大致分为基于校准曲线法的装置和基于基本参数法(也称为fp法)的装置。在基于校准曲线法的定量分析中，为了未知试样的分析，使用成分的含有率已知的一组标准试样，作为成分的含有率与对应于成分的测定元素的荧光x射线(测定线)的测定强度之间的相关性，求出校准曲线。另外，...
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