技术编号：36997818
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体测试，更具体地说，本发明涉及一种半导体测试设备。背景技术、半导体测试设备是用于测试和检测半导体器件的设备，它们通常用于验证半导体器件的性能、可靠性和一致性，半导体测试设备使用各种测试方法和技术，如电性能测试、功能测试、可靠性测试和封装测试，以确保半导体器件符合规格和质量要求。、其中，经检索发现，专利申请号cn.的专利公开了一种半导体测试设备，包括：外观测试装置，外观测试装置包括外观测试腔体、图像采集仪和罩子，外观测试腔体包括第一顶板，第一顶板中具有贯...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。