技术编号：37023184
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及温室植物表型测量，具体为一种基于多光谱点云融合的高通量温室植物表型测量系统。背景技术、植物表型是受基因和环境因素决定或影响的，反映植物结构与组成、植物生长发育过程及结果的全部物理、生理、生化特征和性状。随着近年来功能基因组、转录组、蛋白质组学理论和技术的快速发展，尤其是测序技术的飞速发展，部分植物的基因以及全基因组序列已经被注释，但由于传统植物表型测量技术效率低（基本上手工操作)、分析规模小（涉及的样本和性状类别少)、误差大（难以排除人为和环境因素干扰)、适用性弱（难以跨物种参考分析...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。