技术编号：37155886
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及ict企业研发测试，具体为一种仪表利用率统计及计算方法。背景技术、ict研发企业在研发测试过程中，高价值的仪表是紧缺稀缺资源，因此在研发测试过程中经常会出现仪表不够而耽误测试进度。如何统计仪表的利用率一致是企业的痛点，且现有技术中没有可参考的算法和对应可量化的统计方法。、现在企业针对仪表利用率的常用统计方案只有一个很简单的仪表借用记录，具体借用人在借用期间是否实际在使用仪表是没法统计和度量的，且仪表在研发过程中实际的使用率也难以进行汇总和计算，因此企业在采购仪表时缺少可靠的使用需求...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。