技术编号:37278430
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及质谱技术,特别涉及飞行时间质谱仪和方法。背景技术、飞行时间质谱仪分辨率定义为r=t/(δt),其中t为离子总飞行时间,δt为质谱峰半峰宽。可见,改善质谱分辨率的方式只有离子总飞行时间延长和质谱峰半峰宽缩短两种方式。而质谱峰半峰宽受初始空间分散、初始能量分散和回头时间影响,极难降低,这也是限制飞行时间质谱仪分辨率的主要原因。、现有技术解决方法:加长无场区长度使离子总飞行时间变长,从而改善分辨率,分辨率为几万的质谱仪,无场区长度需要达到数米,对实验环境要求很高。技术实现思路、为解决...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。