技术编号:37352522
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及激光功率采样领域,具体而言,涉及一种光电二极管探测激光功率采样方法及系统。背景技术、当激光光源(有源医疗器械)工作于pwm模式时,光脉冲是周期性的,所以光电二极管采样需与脉冲同步进行。由于光脉冲具有上升沿与下降沿,光电二极管对光脉冲峰值的反馈存在波动以及激光光源泵浦ld热效应会使输出激光功率发生变化等因素,所以对于一个脉冲,不同采样时间与采样位置会得到差异较大的pd值;当激光光源(有源医疗器械)工作于cw模式时,从激光发射开始至激光发射结束,其近似为平均功率等于峰值功率,脉宽无限长的...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。