技术编号:37465366
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本申请实施例涉及集成电路,尤其涉及一种芯片性能验证过程中的指令监测方法、装置、设备及存储介质。背景技术、在芯片设计过程中,需要同步通过芯片性能验证尽量确保芯片设计的正确性。这样,在后续的芯片生产环节中,才能保证生产出来的芯片符合设计目的和预期功能。其中,芯片性能验证指采用验证工具和验证方法,在芯片设计同时,正式流片生产之前,验证芯片设计是否符合硬件工程师对芯片定义的需求规格。、相关技术下,芯片性能验证采用系统层级的测试用例,对处理器芯片进行系统级验证,获得系统级验证结果。、由于系统级验证结...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。