技术编号：37489844
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及目标检测，具体涉及一种缺陷检测方法和一种缺陷检测系统。背景技术、在对待检测工件进行缺陷检测时，通常需要先训练目标检测模型。在目标检测模型的训练过程中，在训练样本集中的缺陷类别过多时，会显著增加计算量，并增加显存占用量，因此，训练效果较差。、相关技术中，通常是采用增加显存或者采用多卡训练的方式来对缺陷类别过多的训练样本集进行训练，大大增加了硬件成本。技术实现思路、本发明为解决上述技术问题，提供了一种缺陷检测方法，在不增加硬件成本的前提下，针对缺陷类别过多的训练样本集依然能够保证目标...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。