技术编号：37530024
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本技术涉及探卡的放置和运输装置，具体涉及一种bist探卡包装箱。背景技术、bist测试技术（build in self test）中文名为内建自测试技术，通过在芯片的设计中加入一些额外的自测试电路，测试时只需要从外部施加必要的控制信号，通过运行内建的自测试硬件和软件，检查被测电路的缺陷或故障。它可以应用于几乎所有电路，因此在半导体工业被广泛应用。、bist测试时，测试设备包括测试机、bist探卡和探针台，bist探卡与测试机和探针台之间的距离非常短，设备测试时通常最小在几百微米甚至更小的距离...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。