技术编号:37586709
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及检测领域,特别涉及一种动态划定检测区域的面板检测方法及装置。背景技术、在面板module段的aoi(automated optical inspection,自动光学检测)检测领域,随着工艺技术的更新换代,对于特殊类型的缺陷检出提出了更高精度要求,像原来的微米级的缺陷检出要求,现在升级为亚微米级,使得所使用的镜头放大倍率越来越高,相应地镜头的景深范围逐步被压缩。、然而,面板表平面很难保证一个很好的平面度,所以为了保证拍照清晰度,需要对面板表平面进行高度测定,即面板表面探高,探高的结...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。