技术编号：37613207
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及人工智能，特别是涉及一种缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质。背景技术、目前，针对产品缺陷检测问题通常采用深度学习算法实现，但利用深度学习算法进行缺陷检测的准确性依赖于大量人工标注的缺陷样本，随着缺陷种类越多或缺陷特征的可区分性越低，所需的缺陷样本数量越大，样本获取成本高且训练效率低，同时，由于深度学习算法一般采用有监督训练的方式，在缺少训练样本的情况下，会降低缺陷检测的准确性。技术实现思路、以下是对本申请详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。、本申请实...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。