技术编号:37940726
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体分立器件测试,尤其涉及一种高压测试电路及装置。背景技术、随着国内光伏应用领域以及新能源行业的大力发展,功率分立半导体器件的耐压要求也随之增加。而集成电路测试作为半导体品质把关的重要一环,需要一个稳定的高输出电压测试设备作为测试基础。、现有技术中,高压测试电路能够有效提供高压测试电压,具备正负输出电压功能,但是其输出电压范围受高压测试电路中控制管的耐压属性的限制,而目前存在一些功率管耐压等级不够高,需要增添更多的功率管以满足高压测试电路的需求。、但是器件越多,对于设备的面积和...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。