技术编号：37987711
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本技术涉及芯片测试，尤其涉及一种半导体芯片测试座。背景技术、半导体芯片是在半导体片材上进行浸蚀，布线，制成的能实现某种功能的半导体器件，常见的半导体芯片有硅芯片、砷化镓、锗等，在半导体芯片大规模研发及生产过程中均需要各类性能检测，芯片测试座在封测环节起到关键性作用，测试座功能是将芯片定位后通过线路板之间电子信号电流传输从而达到检验测试效果。、现有技术中，如中国专利号为：cnu是一种半导体芯片测试座，包括底座、支杆、测试台和两组螺纹管，两组螺纹杆顶端分别与放置板底端左右两侧连...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。