技术编号:38198477
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及金属无损检测,尤其涉及一种金属构件晶粒组织电光原位无损检测方法与系统。背景技术、晶粒组织的状态直接影响金属构件的材料强度、韧性、疲劳等关键性能指标,通过对异常的晶粒组织(粗晶、混晶等)准确检测和识别,可以确保金属构件在极端环境下的可靠性,进而保障机械装备的安全性和整体性能。因此,在航空航天、机械等工业领域,对金属构件进行晶粒组织检测具备极其重要的工程意义。然而,目前的晶粒组织检测手段通常需要在构件上进行取样,属于破坏性检测,为此迫切需要研发一种能够对大尺寸金属构件进行原位检测的先进方...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。