技术编号：38410579
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本技术涉及测试探针，特别涉及一种电子元器件测试探针。背景技术、测试探针相当于一个媒介，测试时可用探针的头部去接触待测物，另一端则用来传导信号，进行电流的传输，探针有多种不同的头型，可以用来应对不同的测试点，比如尖头型、锯齿型、平头型等，电子元器件在完成组装之前，必须经过测试探针检测，确认电子元器件的性能。、现有的电子元器件通过针座插装在pcb线路板上后会露出引脚，将测试探针的测试针头与电子元器件上的引脚接触进行通电测试，电流通过测试探针传导到检查装置，从而通过所传导的电流来检测电子元器件是否...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。