技术编号：38467326
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于光学精密测量领域，具体涉及一种水下线结构光测量工具的校正方法。背景技术、线结构光系统用于水下成像时，往往需要被安装在密封的腔体内，相机通过具有一定厚度的玻璃拍摄水下图像。而水下拍摄到的图像会因为水、玻璃、空气等不同折射率的介质发生折射，给扫描出的点云带来非线性误差。目前多种水下线结构光测量中需要对系统进行水下标定，这种标定方法操作繁琐，且受环境因素影响较大，或忽视玻璃的折射作用导致测量精度降低。技术实现思路、本发明目的旨在解决以上难题，提供一种水下线结构光测量工具的校正方法。水下线...
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