技术编号：38491130
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本技术涉及检具，具体涉及平面度自动化检具。背景技术、目前测量产品平面的方法有塞尺检测，打表测量法，高度规检测，三坐标测量等，塞尺检测只适用于较小的零件检测，且测量精度不高，打表测量存在随机性需要选择测点无法实现被侧面全覆盖，高度规检测与打表类似，三坐标测量也需要选择测点，且测量成本较高，不适合大批量检测。技术实现思路、鉴于上述现有平面度自动化检具存在的问题，提出了本实用新型。、因此，本实用新型目的是提供平面度自动化检具，解决了上述的问题。、为了实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。