技术编号：38876572
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本技术涉及集成电路，尤其涉及一种集成电路测试装置。背景技术、集成电路是一种电子元器件，由所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块电子半导体晶片或介质基片上，集成电路在出厂使用前需使用测试仪进行测试，以保证集成电路能够稳定的运行。、针对上述及现有的相关技术，发明人认为往往存在以下缺陷：在使用测试装置对集成电路进行测试时，需使用多根传输线将测试仪与集成电路进行连接时，在连接时需按压集成电路进行连接，因此在按压集成电路进行连接时容易误触，导致集成电路上的电子元器件发...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。