缺陷样本分类方法、装置、设备及可读存储介质与流程技术资料下载

技术编号:38964757

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本发明涉及图像检测,尤其涉及一种缺陷样本分类方法、装置、设备及可读存储介质。背景技术、随着深度学习技术的发展,越来越多的视觉检测任务中都开始使用深度学习的方法来进行缺陷的检测。例如,通过训练深度学习分类模型从而实现缺陷检测。其中,训练深度学习分类模型需要已经过分类的训练样本,如何基于海量的样本得到用于训练深度学习分类模型的训练样本是亟待解决的问题。技术实现思路、为解决上述技术问题,本发明提供一种缺陷样本分类方法、装置、设备及可读存储介质。、第一方面,本发明提供一种缺陷样本分类方法,所述缺陷...
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