技术编号:38974123
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于半导体,涉及一种二氧化钒薄膜的制备方法,尤其涉及一种b相二氧化钒薄膜结构及其制备方法与应用。背景技术、磁控溅射时,首先利用真空泵将磁控溅射腔体内部调整至真空状态,然后通入溅射用气体与反应用气体,磁控溅射电源通电将气体电离至等离子态,由于溅射靶材与阴极接通后处于低电势状态,带电粒子ar将撞击靶材表面并激发出相应的靶材粒子,部分粒子在空间中运动后,沉积于下方衬底之上并逐步堆积形成薄膜,在此动态过程中,反应气体与靶材粒子发生反应,生成目标产物薄膜。、二氧化钒作为钒的四价氧化物,具有繁多...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。